HL22A装置烘烤时LHCD系统的应力分析

核聚变与等离子体物理 ›› 2006, Vol. 26 ›› Issue (1): 17-21.

HL22A装置烘烤时LHCD系统的应力分析

易良碧 ,曾建尔 ,李广生 ,张劲松

(核工业西南物理研究院 ,成都 610041)

收稿日期:2005-05-26 修回日期:2005-08-08 出版日期:2006-03-15 发布日期:2012-05-29
作者简介:易良碧(1979-),女,重庆市人,核工业西南物理研究院研究生。

Analysis of stress on the L HCD system during baking the HL22A tokamak

YI Liang-bi , ZENG Jian-er , LI Guang-sheng , ZHANG Jing-song

(Southwestern Institute of Physics , Chengdu 610041)

Received:2005-05-26 Revised:2005-08-08 Online:2006-03-15 Published:2012-05-29

摘要/Abstract

摘要：

测量了 HL-2A装置烘烤期间由于温度变化引起的LHCD天线系统位移, 得到了装置真空室达到最高的温升112℃时的真空室和天线的总的最大位移为3.47mm , 其中天线系统自身的位移为0. 9mm。根据这个位移, 定性地算出 LHCD系统中可能产生的应力。据此, 分析了烘烤对LHCD系统带来的影响以及提出了可能采取的缓解措施。

关键词: 低杂波电流驱动, 烘烤, 热应力

Abstract:

Measurement of the LHCD antenna system displacement due to the temperature change is described. The maximal displacement of the LHCD antenna system and the HL-2A vacuum vessel is 3. 47mm , while the displacement of the LHCD antenna system is 0.9mm,at the maximal vacuum vessel temperature 112 ℃. From this displacement , the stress on the LHCD system was calculated. Analyzing the effect on the LHCD system by the baking , the possible means for LHCD transmission system to mitigate it are put forward.

Key words: LHCD, Baking, Thermal stress

中图分类号:

TL62

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