核聚变与等离子体物理 ›› 2019, Vol. 39 ›› Issue (2): 104-111.DOI: 10.16568/j.0254-6086.201902002
谭胜均1,张 洋2,叶民友*1,张晓东2,刘 磊2,罗正平2,龚先祖2
TAN Sheng-jun, ZHANG Yang, YE Min-you, ZHANG Xiao-dong, LIU Lei, LUO Zheng-ping, GONG Xian-zu
摘要:
从EAST 装置2016 年的放电实验中,选取了119 次等离子体破裂放电数据,分析诱发等离子体破裂的原因,发现约60%的破裂是由垂直不稳定性直接引起的,其破裂后将会产生更大的晕电流,从而产生更大的电磁应力损坏装置。对由垂直不稳定性引起的破裂(简称为VID)(72 次放电)进行了研究,建立了分别基于单变量(垂直位移)和两维变量(垂直位移、垂直位移增长率)的预测模型用于对VID 破裂的预测。离线测试表明,基于两维变量的预测模型可以在破裂发生前20ms 给出破裂预警信号,预测成功率达93%。
中图分类号: