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退火对钛/铜热等静压扩散连接界面的影响
陈艳宇1,王平怀1,王英敏2,谌继明1,吴继红1
Effect of annealing on Ti/CuCrZr HIP interface
CHEN Yan-yu1, WANG Ping-huai1, WANG Ying-min2, CHEN Ji-ming1, WU Ji-hong1
核聚变与等离子体物理 . 2019, (3): 243 -248 .  DOI: 10.16568/j.0254-6086.201903009